Standard

NEK IEC 61280-2-2:1998

Tilbaketrukket

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 61280-2-2:2012

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

Describes a test procedure to measure the eye pattern and waveform parameters such as rise time, fall time, overshoot, and extinction ratio. Alternatively, the waveform may be tested for compliance with a predetermined waveform mask.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Tilbaketrukket:
  • Utgave: 1.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • Products.Specs.pages
  • ICS 33.180.01
  • National Committee NEK/NK86

Produktrelasjon