Standard

NEK IEC 60749-23:2004

feb 2004 Publisert

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Merknad: Denne standarden har en ny utgave: NEK IEC 60749-23:2004+A1:2011 CSV

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 660,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 825,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Publisert NEK IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Endring fra Publiseringsdato: jan 2011 Versjon: 1 Antall sider: 16 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 23. februar 2004
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee NEK/NK47

Produktrelasjon

Slått sammen med: NEK IEC 60749-23:2004+A1:2011 CSV
Erstatter: NEK IEC PAS 62189:2000
Adoptert fra: IEC 60749-23:2004

NEK IEC 60749-23:2004

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement: