Standard

NEK IEC 62899-402-1:2017

Publisert
Forhåndsvisning Forhåndsvisning er ikke tilgjengelig

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk
Tjenester

Omfang

IEC 62899-402-1:2017(E) specifies the measurement methods of the widths of the printed patterns in printed electronics. These printed pattern widths are treated as two-dimensional on a substrate. When the patterns are definitely affected by three-dimensional configurations, these are specified in measurement methods for thickness in printed electronics.

Dokumentinformasjon

  • Standard fra NEK
  • Publisert:
  • Utgave: 1.0
  • Versjon: 1
  • Varetype: NAT
  • Products.Specs.pages
  • ICS 31.180
  • National Committee TC 119

Produktrelasjon