Standard

NEK IEC 60747-11:1985

jan 1985 Tilbaketrukket

Logg inn eller registrer deg for å legge til som favoritt.
Logg på eller registrer deg for å få varsler når nye versjoner eller tillegg til denne standarden gjøres tilgjengelig.

Rettelser og tillegg kjøpes separat.

Språk Engelsk

Tjenester Lese online (Ingen utskrift) kr 1 805,00 Trykket og innbundet Plugins.Misc.SDTheme.Product.Variant.ShippingDescription kr 2 255,00

There are no extended editions available for this standard

Åpne produkt
Tilbaketrukket NEK IEC 60747-11:1985/AMD2:1996 Endring fra Publiseringsdato: mai 1996 Versjon: 1 Antall sider: 20 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet
Åpne produkt
Tilbaketrukket NEK IEC 60747-11:1985/AMD1:1991 Endring fra Publiseringsdato: nov 1991 Versjon: 1 Antall sider: 12 Språk: Engelsk Tjenester: Lese online (Ingen utskrift), Trykket og innbundet

Omfang

Applies to discrete semiconductor devices, excluding optoelectronic devices. Should be read together with the generic specification to which it refers: it gives details of the Quality Assessment Procedures, the inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures required for the assessment of semiconductor devices.

Dokumentinformasjon

Standard fra NEK
Publisert: 1. januar 1985
Tilbaketrukket: 4. januar 2016
Utgave: 1.0
Versjon: 1
Varetype: NAT
Products.Specs.pages
ISBN:

ICS 31.080.01
National Committee TC 47/SC 47E

Produktrelasjon

Adoptert fra: IEC 61788-8:2010 ED2

NEK IEC 60747-11:1985

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Omfang

Dokumentinformasjon

Produktrelasjon

Opprett abonnement

Fordeler med et abonnement:

Extended editions Extended editions (0)

Version history Inkluderte rettelser og tillegg (2)